磁粉检验用 B 型试块的评价
北京飞机维修工程有限公司 潘建华
本文对用于检验磁粉设备系统性能的环型标准试块—B 型试块与 Ketos 环和 AS5282 环 做了硬度、 磁化电流对应显现孔数以及表面剩余漏磁场等测试对比。 对三种环试块的标准和 使用要求进行了评价。 关键词： 环型试块 B 型试块 Ketos 环 AS5282 环 磁粉检验
1、问题的提出 B 型试块是 MH/T3008-2004 标准推荐用于检验三相全波整流设备系统性能的标准试块， 简称 B 型环。在标准的附录 E 中规定磁化电流对应 B 型环应显现的孔数，以此评定设备系 统性能是否合格。 如果显现的孔数达不到要求， 则表明设备系统不合格。 型环又称为 Ketos B 环或 Betz 环。Ketos 环使用 ASTM E1444-01/05 标准。目前，被广泛用于国内外航空航天制 造和维修领域[ 1, 2, 3 ]。 对于磁化电流对应显现的孔数的要求，B 型环与 Ketos 环的规定是相同的。但是应用中 我们发现，B 型环显现的孔数与标准规定的孔数存在明显差别。例如，MH/T3008-2004 标准 规定；磁化电流在 1400A 时，B 型环应显现 3 个孔，而实测显现了 6 个孔。实际上当电流 在 500A 时， 型环就很容易显现 3 个孔了。 B 另外， ASTM E1444-01/05 标准中， 在 除了 Ketos 环以外，又引入了 AS5282 环。这两种环在相同测试条件下（设备、磁化电流、磁粉浓度等 均相同） ，要求显现的孔数却不一样，AS5282 环显现的孔数多于 Ketos 环的孔数（见表 1） 。 相关的标准或资料显示，三种环的外观尺寸、材料以及硬度要求基本相同（见表 2） 。表面 看起来，三种环没有差别，但实测结果明显不同。 我们知道，在磁粉检测质量控制中，环型试块是验证磁粉检测系统性能的标准试块。作 为标准试块，如果要求不一致，提供的数据不确定、不统一，就无法准确评定系统性能。因 此，搞清 B 型环与 Ketos 环或 AS5282 环之间的关系、明确使用要求，对用于校验系统性能 的标准试块来说是很有必要的。 2、背景 经过查阅相关资料发现，自从环型试块使用以来，有关制作、使用、标准化等问题一直 存在争议。
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本文对用于检验磁粉设备系统性能的环型标准试块—B 型试块与 Ketos 环和 AS5282 环 做了硬度、 磁化电流对应显现孔数以及表面剩余漏磁场等测试对比。 对三种环试块的标准和 使用要求进行了评价。 关键词： 环型试块 B 型试块 Ketos 环 AS5282 环 磁粉检验
1、问题的提出 B 型试块是 MH/T3008-2004 标准推荐用于检验三相全波整流设备系统性能的标准试块， 简称 B 型环。在标准的附录 E 中规定磁化电流对应 B 型环应显现的孔数，以此评定设备系 统性能是否合格。 如果显现的孔数达不到要求， 则表明设备系统不合格。 型环又称为 Ketos B 环或 Betz 环。Ketos 环使用 ASTM E1444-01/05 标准。目前，被广泛用于国内外航空航天制 造和维修领域[ 1, 2, 3 ]。 对于磁化电流对应显现的孔数的要求，B 型环与 Ketos 环的规定是相同的。但是应用中 我们发现，B 型环显现的孔数与标准规定的孔数存在明显差别。例如，MH/T3008-2004 标准 规定；磁化电流在 1400A 时，B 型环应显现 3 个孔，而实测显现了 6 个孔。实际上当电流 在 500A 时， 型环就很容易显现 3 个孔了。 B 另外， ASTM E1444-01/05 标准中， 在 除了 Ketos 环以外，又引入了 AS5282 环。这两种环在相同测试条件下（设备、磁化电流、磁粉浓度等 均相同） ，要求显现的孔数却不一样，AS5282 环显现的孔数多于 Ketos 环的孔数（见表 1） 。 相关的标准或资料显示，三种环的外观尺寸、材料以及硬度要求基本相同（见表 2） 。表面 看起来，三种环没有差别，但实测结果明显不同。 我们知道，在磁粉检测质量控制中，环型试块是验证磁粉检测系统性能的标准试块。作 为标准试块，如果要求不一致，提供的数据不确定、不统一，就无法准确评定系统性能。因 此，搞清 B 型环与 Ketos 环或 AS5282 环之间的关系、明确使用要求，对用于校验系统性能 的标准试块来说是很有必要的。 2、背景 经过查阅相关资料发现，自从环型试块使用以来，有关制作、使用、标准化等问题一直 存在争议。
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