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磁粉检验用B型试块的评价.pdf8页

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  • 上传作者:航空
  • 上传时间:2011-03-29
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磁粉检验用 B 型试块的评价
北京飞机维修工程有限公司 潘建华

本文对用于检验磁粉设备系统性能的环型标准试块—B 型试块与 Ketos 环和 AS5282 环 做了硬度、 磁化电流对应显现孔数以及表面剩余漏磁场等测试对比。 对三种环试块的标准和 使用要求进行了评价。 关键词: 环型试块 B 型试块 Ketos 环 AS5282 环 磁粉检验

1、问题的提出 B 型试块是 MH/T3008-2004 标准推荐用于检验三相全波整流设备系统性能的标准试块, 简称 B 型环。在标准的附录 E 中规定磁化电流对应 B 型环应显现的孔数,以此评定设备系 统性能是否合格。 如果显现的孔数达不到要求, 则表明设备系统不合格。 型环又称为 Ketos B 环或 Betz 环。Ketos 环使用 ASTM E1444-01/05 标准。目前,被广泛用于国内外航空航天制 造和维修领域[ 1, 2, 3 ]。 对于磁化电流对应显现的孔数的要求,B 型环与 Ketos 环的规定是相同的。但是应用中 我们发现,B 型环显现的孔数与标准规定的孔数存在明显差别。例如,MH/T3008-2004 标准 规定;磁化电流在 1400A 时,B 型环应显现 3 个孔,而实测显现了 6 个孔。实际上当电流 在 500A 时, 型环就很容易显现 3 个孔了。 B 另外, ASTM E1444-01/05 标准中, 在 除了 Ketos 环以外,又引入了 AS5282 环。这两种环在相同测试条件下(设备、磁化电流、磁粉浓度等 均相同) ,要求显现的孔数却不一样,AS5282 环显现的孔数多于 Ketos 环的孔数(见表 1) 。 相关的标准或资料显示,三种环的外观尺寸、材料以及硬度要求基本相同(见表 2) 。表面 看起来,三种环没有差别,但实测结果明显不同。 我们知道,在磁粉检测质量控制中,环型试块是验证磁粉检测系统性能的标准试块。作 为标准试块,如果要求不一致,提供的数据不确定、不统一,就无法准确评定系统性能。因 此,搞清 B 型环与 Ketos 环或 AS5282 环之间的关系、明确使用要求,对用于校验系统性能 的标准试块来说是很有必要的。 2、背景 经过查阅相关资料发现,自从环型试块使用以来,有关制作、使用、标准化等问题一直 存在争议。


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